第三代
電晶體測(cè)試家族
Third generation semiconductor testing family
分類
QT-8100 數(shù)?；旌螴C測(cè)試系統(tǒng) (Cable-Mount)
適用於常規(guī)DC、AC參數(shù)測(cè)試及混合類及模擬類IC元件功能性測(cè)試。 主要測(cè)試：電源管理類，數(shù)位消費(fèi)類，馬達(dá)驅(qū)動(dòng)類，音頻放大器、運(yùn)算等。
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懸浮電源 |
多Site並行 |
多通道高精度 |
支援多種擴(kuò)展 |
| 型號(hào) | QT-8100 |
| 產(chǎn)品優(yōu)勢(shì) |
數(shù)模混合IC測(cè)試系統(tǒng)適用於常規(guī)DC、AC參數(shù)測(cè)試及混合類及模擬類IC元件功能性測(cè)試。 主要測(cè)試：電源管理類，數(shù)位消費(fèi)類，馬達(dá)驅(qū)動(dòng)類，音頻放大器、運(yùn)算等 |
| 主要特點(diǎn) |
? 浮動(dòng)源，數(shù)位頻率25.6MHz，向量深度64M ? 18 bit高精密採(cǎi)樣 ? 600+數(shù)?；旌蠝y(cè)試通道能力，多路1000V/20A高壓大電流 ? 多通道高精度時(shí)間量測(cè)單元，支持ns級(jí)別時(shí)間量測(cè) ? 支持RF模組擴(kuò)展 ? 高效精準(zhǔn)的通信配寘，測(cè)試效率再陞級(jí) |
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