第三代
電晶體測(cè)試家族
Third generation semiconductor testing family
分類
重力式分選機(jī)
適用TO-247、TO-220、TO-263、Tpak等封裝。 常高溫雙軌並測(cè)，比單軌效率提升80%。 動(dòng)態(tài)測(cè)試Docking結(jié)構(gòu)雜訊低於30uH。 提供30°C~200°C可調(diào)高溫測(cè)試環(huán)境。
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懸浮電源 |
多Site串測(cè) |
多通道高精度 |
支援多種擴(kuò)展 |
| 型號(hào) | 重力式分選機(jī) |
| 產(chǎn)品介紹 |
適用TO-247、TO-220、TO-263、Tpak等封裝。 |
| 功能 |
? 常高溫雙軌並測(cè)，比單軌效率提高80%。 ? 動(dòng)態(tài)測(cè)試Docking結(jié)構(gòu)雜訊低於30uH。 ? 提供30°C~200°C可調(diào)高溫測(cè)試環(huán)境。 |
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