第三代
電晶體測試家族
Third generation semiconductor testing family
分類
KGD（Known Good Die）測試解決方案
支持高溫常溫測試：DC+SW+UIL+RG&QA； 提供測試機+轉(zhuǎn)塔/平移分選機搭配方案； 短路保護(hù)+自研探針
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針卡保護(hù) |
兩顆並測 |
高溫常溫 |
數(shù)據(jù)合併 |
| 型號 | KGD測試解決方案 |
| 產(chǎn)品優(yōu)勢 |
低雜散解決方案 短路保護(hù)：短路關(guān)斷時間低於300nS 定制socket，適配不同Handler方案 特殊探針資料，短路測試不燒熔不沾異物 支持工位合併 支持測試機+轉(zhuǎn)塔方案，測試效率高 |
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