第三代
電晶體測試家族
Third generation semiconductor testing family
分類
QT-6000 分立元件高速測試系統(tǒng)
QT-6000分立器件高速測試機，適用於測試中小功率二極體、三極管、MOS等產(chǎn)品，可拓展內(nèi)寘電容（DC+CAP）、EAS、Vc、pA模塊，也可擴展外掛LCR（超高精度電容測試）、Scanbox等，應(yīng)用於晶圓、FT量產(chǎn)或?qū)嶒炇覝y試。
|
懸浮電源 |
四象限電路 |
高速測試 |
支援多種擴展 |
| 型號 | QT-6000 |
| 產(chǎn)品優(yōu)勢 |
? QT-6000分立器件高速測試機，具備測試精度高、測試速度快、穩(wěn)定性好、可靠性高、抗干擾能力強等效能優(yōu)點 ? 採用四象限電路，可以很好的保護被測元件。 ? 採用懸浮電源和全對稱結(jié)構(gòu)。 ? 高速測試滿足UPH56K以上的分選機。 |
| 主要特點 |
? 高速測試， UPH>40K ? 可一拖二實現(xiàn)100% FT+QA並行測試 ? 先進的電容高速測試方案，實現(xiàn)CAP+DC同工位測試 ? 內(nèi)寘UIS測試方案，實現(xiàn)DC+UIS同工位測試 ? LCR精準(zhǔn)電容測試，最小測試電容值100fF ? 電壓/電流（可選）：1200V/600V，30A/10A/3A |
Testing standards檢測標(biāo)準(zhǔn)
Recommend推薦產(chǎn)品
|
中國廣東省佛山市南海國家高新區(qū)新光源產(chǎn)業(yè)基地光明大道16號 |
|
+86 757 83207313 (銷售) |
|
+86 757 83208786 (銷售) |
|
info@powertechsemi.com |
佛山市聯(lián)動科技股份有限公司版權(quán)所有powertechsemi.com ? 2015 | 隱私政策 | Sitemap 粵ICP備17127080號-1
