第三代
半導(dǎo)體測(cè)試家族
Third generation semiconductor testing family
分類
QT-3107 LCR RG/CG 測(cè)試
自研LCR數(shù)字電橋，支持Mosfet RG/CG測(cè)試，也可以用于測(cè)試二極管的電容測(cè)試，分辨率1fF
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支持雙DIE |
精度高抗干擾 |
測(cè)試速度快 |
擴(kuò)展2KV偏置 |
| 型號(hào) | QT-3107 |
| 產(chǎn)品優(yōu)勢(shì) |
采用數(shù)字電橋，抗干擾能力強(qiáng)，測(cè)試精度高； 測(cè)試時(shí)間比模擬電橋快2-3倍； 偏置電壓最高2KV； |
| 主要特點(diǎn) |
測(cè)試分辨率1fF； 自帶±100V偏置源； 測(cè)試頻率：1MHz，擴(kuò)展2MHz； 輸出幅度：0.025-2V; |
Testing standards檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)
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