第三代
半導(dǎo)體測(cè)試家族
Third generation semiconductor testing family
分類
QP3000
適用于8、12″Si、SiC分立器件、功率器件、集成電路、射頻器件、光芯片等晶圓的自動(dòng)探針測(cè)試。 自動(dòng)上下片，Wafer ID讀取。 全自動(dòng)CCD視覺對(duì)針定位。 高精度定位平臺(tái)。 支持常高溫測(cè)試。 實(shí)時(shí)生成Mapping顯示Bin。 通用GPIB、TTL、R-232接口。
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懸浮電源 |
多Site并行 |
多通道高精度 |
支持多種擴(kuò)展 |
| 型號(hào) | QP3000 |
| 產(chǎn)品介紹 |
適用于8、12″Si、SiC分立器件、功率器件、集成電路、射頻器件、光芯片等晶圓的自動(dòng)探針測(cè)試。 自動(dòng)上下片，Wafer ID讀取。 |
| 功能 |
? 全自動(dòng)CCD視覺對(duì)針定位。 ? 高精度定位平臺(tái)。 ? 支持常高溫測(cè)試。 ? 實(shí)時(shí)生成Mapping顯示Bin。 ? 通用GPIB、TTL、R-232接口。 |
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