第三代
半導體測試家族
Third generation semiconductor testing family
分類
KGD(Known Good Die)測試解決方案
支持高溫常溫測試：DC+SW+UIL+RG&QA；提供測試機+轉(zhuǎn)塔/平移分選機搭配方案；短路保護+自研探針
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針卡保護 |
兩顆并測 |
高溫常溫 |
數(shù)據(jù)合并 |
| 型號 | KGD測試解決方案 |
| 產(chǎn)品優(yōu)勢 |
低雜散解決方案 短路保護：短路關(guān)斷時間低于300nS 定制socket，適配不同Handler方案 特殊探針材料，短路測試不燒熔不沾異物 支持工位合并 支持測試機+轉(zhuǎn)塔方案，測試效率高 |
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