第三代
半導(dǎo)體測(cè)試家族
Third generation semiconductor testing family
分類(lèi)
QT-DRM101000 氮化鎵動(dòng)態(tài) RDON
適用于氮化鎵動(dòng)態(tài)RDON參數(shù)測(cè)試?？梢愿鶴T-4100，QT-8000搭配組成測(cè)試方案
|
支持硬切/軟切 |
支持電阻/電感負(fù)載 |
硬切<1us |
多脈沖輸出 |
| 型號(hào) | QT-DRM101000 |
| 產(chǎn)品優(yōu)勢(shì) |
QT-DRM101000適用于氮化鎵動(dòng)態(tài)RDON參數(shù)測(cè)試?？梢愿鶴T-4100，QT-8000搭配組成測(cè)試方案 |
| 主要特點(diǎn) |
? 支持FT 或者CP，實(shí)驗(yàn)室，量產(chǎn)測(cè)試 ? 硬切和軟切，硬切可以滿足<1uS 測(cè)量RDON ? 輸出能力10A/1000V
|
|
中國(guó)廣東省佛山市南海國(guó)家高新區(qū)新光源產(chǎn)業(yè)基地光明大道16號(hào) |
|
0757 83207313 (銷(xiāo)售) |
|
0757 83208786 (銷(xiāo)售) |
|
info@powertechsemi.com |
佛山市聯(lián)動(dòng)科技股份有限公司 版權(quán)所有 powertechsemi.com ? 2015 | 隱私政策 | Sitemap 粵ICP備17127080號(hào)-1
