第三代
半導(dǎo)體測(cè)試家族
Third generation semiconductor testing family
分類
QT-4100 功率器件測(cè)試系統(tǒng)
適用于SiC /Si MOSFET、IGBT 、二極管、三極管、可控硅、固態(tài)放電管、三端穩(wěn)壓、光耦等電性參數(shù)測(cè)試。提供整套成熟測(cè)試方案，全面支持DC、EAS、RGCG、熱阻、SW開關(guān)特性、短路、TRR、QG等動(dòng)靜態(tài)參數(shù)測(cè)試?？蓪?shí)現(xiàn)多工站測(cè)試數(shù)據(jù)合并。
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限壓限流 |
高精度Rdon測(cè)試 |
模塊化功能 |
多站數(shù)據(jù)合并 |
| 型號(hào) | QT-4100 功率器件測(cè)試系統(tǒng) |
| 產(chǎn)品優(yōu)勢(shì) |
一鍵校準(zhǔn)，開批自檢防呆 Low RDON最低測(cè)試0.2mR 限壓限流保護(hù) 填表式制程 支持?jǐn)U展EAS，LCR，熱阻，SW，TRR，QG 支持PAT功能 具備SECS/GEM標(biāo)準(zhǔn)接口 |
| 主要特點(diǎn) |
滿足SiC Mos/IGBT 全參數(shù)測(cè)試流程，支持100% 在線QA
DC規(guī)格：2kV 200A，擴(kuò)展8kV 2kA AC規(guī)格：1500V 600A 短路 3000A 雜散Ls<30nH，保護(hù)<300ns 國(guó)內(nèi)首家實(shí)現(xiàn)多工位合并數(shù)據(jù)，同時(shí)支持測(cè)試工位合并 行業(yè)內(nèi)公認(rèn)的標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試解決方案 |
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