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第三代
半導(dǎo)體測(cè)試家族
Third generation semiconductor testing family
分類(lèi)
 
QT-8100 數(shù)?；旌螴C測(cè)試系統(tǒng) (Cable-Mount)

適用於常規(guī)DC、AC參數(shù)測(cè)試及混合類(lèi)及模擬類(lèi)IC元件功能性測(cè)試。 主要測(cè)試：電源管理類(lèi)，數(shù)位消費(fèi)類(lèi)，馬達(dá)驅(qū)動(dòng)類(lèi)，音頻放大器、運(yùn)算等。



懸浮電源

多Site並行

多通道高精度

支援多種擴(kuò)展

型號(hào) QT-8100
產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)

數(shù)?；旌螴C測(cè)試系統(tǒng)適用於常規(guī)DC、AC參數(shù)測(cè)試及混合類(lèi)及模擬類(lèi)IC元件功能性測(cè)試。 主要測(cè)試：電源管理類(lèi)，數(shù)位消費(fèi)類(lèi)，馬達(dá)驅(qū)動(dòng)類(lèi)，音頻放大器、運(yùn)算等

主要特點(diǎn) ? 浮動(dòng)源，數(shù)位頻率25.6MHz，向量深度64M
? 18 bit高精密採(cǎi)樣
? 600+數(shù)?；旌蠝y(cè)試通道能力，多路1000V/20A高壓大電流
? 多通道高精度時(shí)間量測(cè)單元，支持ns級(jí)別時(shí)間量測(cè)
? 支持RF模組擴(kuò)展
? 高效精準(zhǔn)的通信配寘，測(cè)試效率再陞級(jí)




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