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第三代
半導(dǎo)體測試家族
Third generation semiconductor testing family
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分類
 
KGD（Known Good Die）測試解決方案

支持高溫常溫測試：DC+SW+UIL+RG&QA； 提供測試機(jī)+轉(zhuǎn)塔/平移分選機(jī)搭配方案； 短路保護(hù)+自研探針



針卡保護(hù)

兩顆並測

高溫常溫

數(shù)據(jù)合併

型號 KGD測試解決方案
產(chǎn)品優(yōu)勢 低雜散解決方案
短路保護(hù)：短路關(guān)斷時間低於300nS
定制socket，適配不同Handler方案
特殊探針資料，短路測試不燒熔不沾異物
支持工位合併
支持測試機(jī)+轉(zhuǎn)塔方案，測試效率高



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